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隨著電力電子技術(shù)的高速發(fā)展 開(kāi)關(guān)電源發(fā)展趨勢(shì)如何

  • 發(fā)布日期:2018-11-24      瀏覽次數(shù):1604
    •   隨著電力電子技術(shù)的高速發(fā)展,電力電子設(shè)備與人們的工作、生活的關(guān)系日益密切,而電子設(shè)備都離不開(kāi)可靠的電源,進(jìn)入0年代計(jì)算機(jī)電源全面實(shí)現(xiàn)了開(kāi)關(guān)電源化,完成計(jì)算機(jī)的電源換代,進(jìn)入90年代開(kāi)關(guān)電源相繼進(jìn)入各種電子、電器設(shè)備領(lǐng)域,程控交換機(jī)、通訊、電子檢測(cè)設(shè)備電源、控制設(shè)備電源等都已廣泛地使用了開(kāi)關(guān)電源,更促進(jìn)了開(kāi)關(guān)電源技術(shù)的迅速發(fā)展。與傳統(tǒng)線(xiàn)性電源相比,二者的成本都隨著輸出功率的增加而增長(zhǎng),但二者增長(zhǎng)速率各異。線(xiàn)性電源成本在某一輸出功率點(diǎn)上,反而高于開(kāi)關(guān)電源,這一成本反轉(zhuǎn)點(diǎn)。隨著電力電子技術(shù)的發(fā)展和創(chuàng)新,使得開(kāi)關(guān)電源技術(shù)在不斷地創(chuàng)新,這一成本反轉(zhuǎn)點(diǎn)日益向低輸出電力端移動(dòng),這為開(kāi)關(guān)電源提供了廣泛的發(fā)展空間。高頻化是開(kāi)關(guān)電源的發(fā)展方向,高頻化使開(kāi)關(guān)電源小型化,并使開(kāi)關(guān)電源進(jìn)入更廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,特別是在高新技術(shù)領(lǐng)域的應(yīng)用,推動(dòng)了高新技術(shù)產(chǎn)品的小型化、輕便化。
        開(kāi)關(guān)電源發(fā)展趨勢(shì)
        隨著電子產(chǎn)品輕、薄、小的發(fā)展趨勢(shì),要求電子元件體積更小,耗能更低。開(kāi)關(guān)電源作為電子設(shè)備中*的組成部分也在不斷的改進(jìn)。率、高可靠、低耗、低噪聲、抗干擾和模塊化,成了開(kāi)關(guān)電源的發(fā)展方向。
        率。為了使開(kāi)關(guān)電源輕、小、薄,高頻化(開(kāi)關(guān)頻率達(dá)兆赫級(jí))是必然發(fā)展趨勢(shì)。而高頻化又必然使傳統(tǒng)的PWM開(kāi)關(guān)(屬硬開(kāi)關(guān))功耗加大,效率降低,噪聲也提高了,達(dá)不到高頻、的預(yù)期效益,因此實(shí)現(xiàn)零電壓導(dǎo)通、本電流關(guān)斷的軟開(kāi)關(guān)技術(shù)將成為開(kāi)關(guān)電源產(chǎn)品未來(lái)的主流。采用軟開(kāi)關(guān)技術(shù)可使效率達(dá)到~%。
        高可靠。開(kāi)關(guān)電源比連續(xù)工作電源使用的元器件多數(shù)十倍,因此降低了可靠性。從壽命角度出發(fā),電解電容、光耦合器及排風(fēng)扇等器件的壽命決定著電源的壽命。追求壽命的延長(zhǎng)要從設(shè)計(jì)方面著眼,而不是從使用方面著想。美國(guó)一公司通過(guò)降低給溫、減少器件的電應(yīng)力、降低運(yùn)行電流等措施使其DC/DC開(kāi)關(guān)電源系列產(chǎn)品的可靠性大大提高,產(chǎn)品的MTBF高達(dá)00萬(wàn)小時(shí)以上。
        模塊化。無(wú)論是AC/DC或是DC/DC或是變換器都是朝模塊化方向發(fā)展。其特點(diǎn)是:可以用模塊電源組成分布式電源系統(tǒng);可以設(shè)計(jì)成N+冗余電源系統(tǒng),從而提高可行性;可以做成插入式,實(shí)現(xiàn)熱更換,從而在運(yùn)行中出現(xiàn)故障時(shí)能高速更換模塊插件;多臺(tái)模并聯(lián)可實(shí)現(xiàn)大功率電源系統(tǒng)。此外,還可以在電源系統(tǒng)建成后,根據(jù)發(fā)展需要不斷擴(kuò)充容量。
        低噪聲。開(kāi)關(guān)電源的又一缺點(diǎn)是噪聲大,單純追求高頻化,噪聲也隨之增大,采用部分諧振轉(zhuǎn)換回路技術(shù),在原理上既可以高頻化,又可以低噪聲。但諧振轉(zhuǎn)換技術(shù)也有其難點(diǎn),如很難準(zhǔn)確地控制開(kāi)關(guān)頻率、諧振時(shí)增大了器件負(fù)荷、場(chǎng)效應(yīng)管的寄生電容易引起短路損耗、元件熱應(yīng)力轉(zhuǎn)向開(kāi)關(guān)管等問(wèn)題難以解決。
        抗電磁干擾(EMI)。當(dāng)開(kāi)關(guān)電源在高頻下開(kāi)關(guān)時(shí),其噪聲通過(guò)電源線(xiàn)產(chǎn)生對(duì)其它電子設(shè)備的干擾,世界各國(guó)已有抗EMI的規(guī)范或標(biāo)準(zhǔn),如美國(guó)的FCC、德國(guó)的VDE等,研究開(kāi)發(fā)抗EMI的開(kāi)關(guān)電源日益顯行生要。